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HGTE-II型半导体热电参数变温测试系统
 
HGTE－II型半导体材料变温热电参数测量系统是本研究室开发的能同时测试不同温度下半导体材料热电参数（电阻率和塞贝克系数）的专利技术产品。与国外同类产品相比，本系统除具有测试温度范围宽（室温～800℃），测试精度高，操作方便等特点。 此设备还可以测试半导体纳米薄膜的热电性能。整个测试过程全自动数据采．．．．．．
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湖北武汉华中科技大学材料科学与工程学院先进能源材料实验室(430074) 电话：027-87540944
联系人：杨君友 电话：027-65201703 Email:junyou.Yang@163.com